測(cè)試探針是一種用于電子測(cè)試中接觸被測(cè)對(duì)象（如電路板、芯片引腳等）的精密電子元件，主要作用是傳導(dǎo)電信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)電子器件性能、電路連通性等的檢測(cè)。

測(cè)試探針的組成

針頭：與被測(cè)對(duì)象直接接觸，通常采用耐磨、導(dǎo)電性能好的材料，形狀根據(jù)測(cè)試需求設(shè)計(jì)（如尖針、圓頭針、鏟形針等）。

針管：用于固定針頭和彈簧，一般由黃銅等導(dǎo)電材料制成，表面常做鍍金處理以增強(qiáng)導(dǎo)電性和抗腐蝕性。

彈簧：提供接觸壓力，確保針頭與被測(cè)對(duì)象穩(wěn)定接觸，材料多為不銹鋼，其彈力大小需根據(jù)測(cè)試場(chǎng)景調(diào)整。

測(cè)試探針的分類(lèi)

按用途：可分為PCB測(cè)試探針、半導(dǎo)體測(cè)試探針、汽車(chē)電子測(cè)試探針等，分別適用于電路板、芯片、汽車(chē)電子元件等的測(cè)試。

按結(jié)構(gòu)：有直探針、彎探針、伸縮探針等，不同結(jié)構(gòu)適應(yīng)不同的測(cè)試空間和接觸角度要求。

按性能：可分為高頻探針、高壓探針、大電流探針等，滿足不同信號(hào)傳輸和測(cè)試條件的需求。

測(cè)試探針的應(yīng)用領(lǐng)域

電子制造業(yè)：在電路板生產(chǎn)過(guò)程中，用于檢測(cè)線路的導(dǎo)通性、短路情況等；在芯片封裝測(cè)試中，接觸芯片引腳以檢測(cè)其電氣性能。

科研實(shí)驗(yàn)室：用于電子元器件的性能測(cè)試和研發(fā)實(shí)驗(yàn)，幫助研究人員獲取準(zhǔn)確的電信號(hào)數(shù)據(jù)。

汽車(chē)電子：對(duì)汽車(chē)中的各類(lèi)電子模塊（如發(fā)動(dòng)機(jī)控制模塊、車(chē)載娛樂(lè)系統(tǒng)等）進(jìn)行測(cè)試，確保其工作正常。

測(cè)試探針的重要性

測(cè)試探針是電子測(cè)試環(huán)節(jié)中不可或缺的關(guān)鍵部件，其性能（如導(dǎo)電性、耐磨性、接觸穩(wěn)定性等）直接影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。高質(zhì)量的測(cè)試探針能提高測(cè)試效率，降低誤判率，從而保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量。