測試探針的材質(zhì)和分類

　　測試探針的材質(zhì)有W，ReW,CU、 A+　　1.探針主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。　　2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。　　懸臂探針：劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type) 垂直探針：垂直型(Vertical Type)　　1.ICT探針　(ICT series Probes) 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.　　2.界面探針(Interface Probes) 非