淺談探針的分類(lèi)

探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。探針主要類(lèi)型：懸臂探針和垂直探針。懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）垂直探針：垂直型（Vertical Type）1.ICT探針　（ICT series Probes)一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,